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SEMI F61-0521 半导体超纯水系统设计与运行指南
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SEMI F61-0521 半导体超纯水系统设计与运行指南
SEMI F75-0521 半导体制造超纯水质量监测指南
ASTM D5127 电子和半导体行业超纯水指南
ASTM D5173 水中碳化合物在线监测方法
ASTM D5391 高纯水流动样品电导率和电阻率测试方法
ASTM D5462 高纯水低水平溶解氧在线测量方法
ASTM D6317 水中低水平总碳/无机碳/有机碳测定方法
ASTM F1094 微电子工艺用水微生物监测方法
客户内控规格/供应商审核规范
ISO 14644 洁净室与受控环境标准簇
ISO 14644-1 洁净室空气洁净度等级分类
ISO 14644-2 洁净室空气洁净度监测
ISO 14644-8 洁净室空气分子污染 AMC 分类
JEDEC 半导体可靠性标准簇(按器件类型确认)
JEDEC JESD22-A101 稳态温湿度偏置寿命试验
JEDEC JESD22-A104 温度循环试验
JEDEC JESD22-A106 热冲击试验
JEDEC JESD47 集成电路应力测试驱动资格认证
SEMI F63 超纯水用于半导体工艺指南
SEMI 电子级化学品相关标准簇(待按客户项目确认具体编号)
SEMI 污染控制与洁净相关标准簇(待核验具体编号)
SEMI 高纯气体与供气相关标准簇(待核验具体编号)
SEMI 超纯水 UPW 相关标准簇(待按客户项目确认具体编号)
SEMI 晶圆与表面污染相关实践簇(待核验具体编号)