适用范围用于半导体器件温湿度偏置可靠性验证。发布/归口：JEDEC适用阶段：acceptance使用提示需按器件类型确认测试条件、样品数量、偏置方式和失效判据。关联检测指标高低温/湿热可靠性degC/%RH冷热冲击可靠性cycle盐雾腐蚀可靠性h振动/机械冲击可靠性g/Hz绝缘电阻可靠性ohm接触电阻可靠性mohm老化/寿命试验可靠性h
