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电感耦合等离子体质谱在半导体高纯材料分析中的应用
时间:2020-01-17 09:13:37 点击次数:64
电感耦合等离子体质谱分析法是将电感耦等离子体(ICP)技术和质谱(MS)技术结合起来, 利用等离子体作为离子源,由接口将等离子体中被电离了的试样离子引入质谱仪,用质谱仪对离子进行质量分析(按 m/Z 比值将不同的离子分开)并检测记录,根据所得质谱图进行定性定量分析。 具有以下几个优点: (1)灵敏度高:ICP-MS 仪器的灵敏度一般高出 ICP-AES 一到两个数量级,从而对多数元素能达到更低的检出限; (2)动态线性范围宽; (3)可多元素同时分析; (4)分析速度快,单个样品一般在几秒钟内 完成; (5)分析元素范围广,能分析元素周期表中除碳、氢、氧外的绝大多数元素。 正因为这些优点,使 ICP-MS 分析技术广泛应用于半导体工业用高纯材料的痕量杂质分析中。
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